微分相位對比顯微系統與方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

106139377

專利證號

I 637166

專利獲證名稱

微分相位對比顯微系統與方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2018/10/01

技術說明

相位差顯微鏡可在不用染色的情況下,觀察活細胞的運行機制,但只能提供定性分析,無法提供定量分析.所發明的顯微鏡系統搭配自行開發的演算法,不僅可定量分析,同時可測得活細胞的光程厚度,並提供兩倍解析度。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址