發明
中華民國
094110890
I255552
具優質本體縛點之矽覆絕緣金屬氧化半導體裝置及其製作方法
國立中山大學
2006/05/21
含優質本體縛點之矽覆絕緣金屬氧化半導體裝置及其製作方法
本案業經本校技術審查委員會同意中華民國專利領證及1~3年年費繳納
產學營運及推廣教育處
(07)525-2000#2651
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