近場光學顯微裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099144078

專利證號

I 449915

專利獲證名稱

近場光學顯微裝置

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2014/08/21

技術說明

本發明係揭露一種近場光學顯微裝置。其裝置包含一發光單元、一探針及一橢球面鏡。發光單元係輸出一光線。探針係設在一待測樣品的一面，且光線聚集在探針的針尖周圍上，以引出近場光。橢球面鏡係具有一第一焦點及一第二焦點，且第一焦點與針尖在兩相對應位置，而針尖所引出的近場光從第一焦點散射在橢球面鏡內，並經由反射方式通過第二焦點。 A near-field scanning optical microscope is disclosed. The microscope includes a lighting component, a probe and an ellipsoidal mirror. The lighting component emits a light. The probe is disposed on one side of a testing sample, and the light is focused around a probe tip to draw the near-field light out. The ellipsoidal mirror has a first focal point and a second focal point, and the first focal point and the probe tip are disposed at the corresponding positions, and the near-field light drawn out from the probe tip is scattered from the first focal point inside the ellipsoidal mirror, and reflected and passed through the second focal point.

備註

本部(收文號：第1080062138號)同意該院108年9月16日國研授儀服院字第1080901656號函通報專利終止維護。

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

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