傾斜角度與距離量測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

104144438

專利證號

I 580930

專利獲證名稱

傾斜角度與距離量測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2017/05/01

技術說明

傳統的自動視準儀通常僅能量測到待測物表面角度變化而已，並無法得出待測物距離。因此本發明提出了一款光學非接觸式傾斜表面量測系統，其可以同時量測到相對平行於一平坦待測表面兩個軸之傾斜角度(α、β)和垂直此表面的軸線之離焦量(δ)，如此本系統的應用範圍將可更加廣泛。本發明係一種傾斜角度與距離量測方法，係藉由分光鏡及凸透鏡之組合將光源入射至待測物上，並透過光電感應模組接收待測物所反射之光源，再由處理單元依據待測物所反射之光源於光電感應模組上所產生之光斑之重心座標計算出待測物之距離與傾斜角度。 The conventional auto-collimator can only measure the tilt of the sample surface, however, it is unable to measure the distance from the sample. Therefore, this patent presents a non-contact optical measuring system for an inclined surface, which can measure the defocusing amount (δ) and the tilt (α, β) of the sample surface. Consequently, the scope of application of this system will be more extensive.

備註

本會(收文號1110067784)同意該校111年10月28日中正研發字第1110901122號函申請終止維護專利(國立中正大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉授權中心

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