多電極量測系統MULTI-ELECTRODE MEASURING SYSTEM

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/777,942

專利證號

US 8,134,357 B2

專利獲證名稱

多電極量測系統MULTI-ELECTRODE MEASURING SYSTEM

專利所屬機關 (申請機關)

國立雲林科技大學

獲證日期

2012/03/13

技術說明

本發明提供一種多電極量測系統，包括：一前端裝置，其為一感測裝置，包括：一多電極感測元件，包括複數個電極；一多通道夾具與該多電極感測元件耦接；以及一參考電極。一後端裝置，其為一電性裝置，亦為一虛擬儀表，包括：一讀出電路裝置，與該多通道夾具及該參考電極耦接，用以接收分別來自該多電極感測元件之每一電極與該參考電極量測一待測液之各原始訊號；一資料取樣裝置，與該讀出電路裝置耦接，用以數位化該各原始訊號以形成各數位訊號並陣列取樣；以及一訊號處理裝置，與該資料取樣裝置耦接，用以處理該各數位訊號。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財管理組

連絡電話

(05)5342601轉2521

網址