一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與方法 | 專利查詢

一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與方法


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095102717

專利證號

I291013

專利獲證名稱

一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2007/12/11

技術說明

一種數位結構光微三維共焦表面輪廓量測系統與技術,包括 一光學投影單元、一影像擷取單元、一精密平移台單元、一 主控制單元;該精密平移台單元係設置於該影像擷取單元的 顯微系統之下,用以放置待測物;該主控制單元係連接該光 學投影單元與該影像擷取單元;該主控制單元編寫一數位結 構光源,其經由光學投影鏡組進行圖案之對焦與縮影,並考 慮待測物之表面特性調整至最佳化光強,將該光源投射至該 待測物上,再由該影像擷取單元擷取該待測物表面反射訊 號,並將擷取之訊號傳輸至該主控制單元,以進行分析。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360


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