粒子電漿共振光譜量測系統及方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

103114623

專利證號

I 537552

專利獲證名稱

粒子電漿共振光譜量測系統及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2016/06/11

技術說明

本發明是有關於一種粒子電漿共振光譜量測系統及方法，特別是有關於一種可正確量測並分析粒子電漿共振之消散光譜的光譜量測系統及方法。本發明係揭露一種粒子電漿共振光譜量測系統及方法，包含光源、複合式平台、偵測單元、第一光纖元件及第二光纖元件。其中複合式平台係用以置放表面包含具有粒子電漿特性之奈米粒子的待測波導元件；偵測單元係用以偵測待測波導元件所發出載有粒子電漿共振訊號之出射光；第一光纖元件設置於光源與複合式平台之間；第二光纖元件設置於複合式平台與偵測單元之間。 This invention discloses a particle plasmon resonance spectroscopic system and its method. The system comprises an incident illuminant, a sample platform, a detecting element, a first fiber-optic element, and a second fiber-optic element. The sample platform is used to hold a waveguide element whose surface is covered with nanoparticles having the feature of particle plasmon. The detecting element is used to detect an output illuminant carrying a particle plasmon resonance signal from the waveguide element. The first fiber-optic element is placed between the incident illuminant and the sample platform. The second fiber-optic element is placed between the sample platform and the detecting element.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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