粉粒體壓力-位置動態量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094120249

專利證號

I 265285

專利獲證名稱

粉粒體壓力-位置動態量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2006/11/01

技術說明

本發明以現有濾餅靜態量測的基礎，利用三軸位移裝置產生三度空間位移及壓力感知器，設計 發展出一套可靠的粉粒體壓力-位置動態量測系統。此系統能有效的即時量測在不同高度的粉 粒體壓力，且能很正確得知不正常壓力的狀況，並可將此基礎量測系統推廣適用到各種環境 下，進行動態的濾餅厚度量測。量測系統由壓力感知裝置及位移裝置二大部份所組成。設計基 本原理為利用壓力感知器接觸到同一粉粒體時，會產生均勻的壓力值；當壓力感知器碰觸到粒 徑差距過大或不同種類的粉粒體物質時，則會有不同的壓力值產生。

備註

本部(收文號1050047992)同意該校105年7月7日中大研字第1051430192號函申請終止維護專利97件(中央)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

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