利用新型偏振控制雙光束干涉儀製作平均折射係數平坦化之光纖光柵Fabrication of true apodized fiber Bragg grating using a new two-beam interferometer with polarization control | 專利查詢

利用新型偏振控制雙光束干涉儀製作平均折射係數平坦化之光纖光柵Fabrication of true apodized fiber Bragg grating using a new two-beam interferometer with polarization control


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

10/756,308

專利證號

US 6,963,432 B2

專利獲證名稱

利用新型偏振控制雙光束干涉儀製作平均折射係數平坦化之光纖光柵Fabrication of true apodized fiber Bragg grating using a new two-beam interferometer with polarization control

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2005/11/08

技術說明

提出只需旋轉一反射鏡片即可以達到微調干涉角度目的的之雙光束干涉儀架構。

備註

本部(收文號1060016225)同意該校106年3月7日交大研產學字第1061002219號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

連絡電話

03-5738251


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