用於晶片測試之輸出資料壓縮器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098139081

專利證號

I 398652

專利獲證名稱

用於晶片測試之輸出資料壓縮器

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2013/06/11

技術說明

本發明之主要目的係提供一種用於晶片測試之輸出資料壓縮器，其包含一快速錯誤偵測單元、一門檻表決單元及一診斷單元，並利用該診斷單元之判斷值之回饋至該待測晶片，以決定該待測晶片之錯誤位置，以達成提升測試作業效率之目的。 為了達成上述目的，本發明較佳實施例之用於晶片測試之輸出資料壓縮器包含： 一快速錯誤偵測單元，其連接測試數個待測晶片； 一門檻表決單元，其連接至該快速錯誤偵測單元，以判斷多數該待測晶片之輸出；及 一診斷單元，其連接至該門檻表決單元，以提供一判斷值； 其中利用該診斷單元之判斷值之回饋至該待測晶片，以決定該待測晶片之錯誤位置。 本發明較佳實施例之該快速錯誤偵測單元具有一AND閘及一OR閘組成的樹狀結構。 本發明較佳實施例之該門檻表決單元係屬一門檻表決電路。 本發明較佳實施例之該門檻表決單元選自一進化式多數決表決器或一分層式表決電路。 本發明較佳實施例之該診斷單元係屬一診斷電路。 本發明較佳實施例之該輸出資料壓縮器另包含數個元件開關。 本發明較佳實施例之該元件開關由XOR閘、AND閘及JK正反器組成。 An output data analyzer, for use in chip testing, includes a fast detection unit, a threshold voter unit and a diagnosis unit. The fast detection unit connects with a plurality of chips (chip under test, CUT) for testing operation. The threshold voter unit connects with the threshold voter unit so as to determine a majority of outputs of the chips. The diagnosis unit connects with the threshold voter unit so as to provide an evaluation value. Accordingly, the evaluation value of the diagnosis unit is sent to the chips as a feedback to determine error positions among the chips.

備註

本部(收文號1050019735)同意該校105年3月21日中產營字第1051400266號函申請終止維護專利

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