推拉式可調光延遲線

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109129035

專利證號

I 740621

專利獲證名稱

推拉式可調光延遲線

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣科技大學

獲證日期

2021/09/21

技術說明

本產學計畫研究三維雷射掃描(3D laser scanning)技術的關鍵技術與核心模組，此技術可掃描空間並提供距離資訊。依深度距離，其應用可分成近距離3D影像掃描，例如使用於最新iphone手機的臉部辨識功能(Face ID)；中距離的靜止或動態物體偵測，例如使用於自動駕駛汽車、機器人及建築資訊模型(Building information modeling, BIM);以及遠距離的航空測繪和大氣測量等領域。中遠距離的三維雷射掃描系統一般稱之為光學雷達(Light Detection and Ranging, LIDAR)，或簡稱光達。光達系統包含可掃描光束的發射機以及可以判讀經過物體反射訊號的接收機。 本專利所設計之推拉式可調光延遲線及相位調控器方法用於光積體化三維雷射掃描晶片中之掃描光束發射機，以達到相位調控的目的。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉中心

連絡電話

02-2733-3141#7346

網址