相位偏移偵測器/PHASE SHIFT DETECTOR

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

15/426,123

專利證號

US 10,001,515 B1

專利獲證名稱

相位偏移偵測器/PHASE SHIFT DETECTOR

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2018/06/19

技術說明

本設計提出具有飄移補償之相位偏移偵測器，飄移補償方法為藉由調整比較 器中部份電晶體之基板電壓來改善偏差電壓的產生，因此設計一偏差電壓校正電路，來控制是否補償比較器中電晶體之基板電壓。 為避免待測物經過感測器後產生的延遲效應，可能在後級轉換成方波或是量 測相位差時產生誤差。因此系統上主要是以差動的方式去做訊號上的處理，而使用兩組感測器，其中一組感測器上會放置待測液體做為實驗組，另一組則是對照組。輸入訊號產生固定頻率的弦波通過感測器後，其輸出訊號分別輸入至相位偏移偵測器轉換成方波訊號，並傳送給控制電路計算兩組訊號的相位偏移量。 The proposed design are composed of “A phase shift detector with offset compensation”. The occurrence of offset voltage can be improved by regulating the bulk voltage of MOSFETs in the comparator. Therefore, we designed a offset calibration system to determine whether the MOSFETs are to be compensated. The delay effect which is caused by the analyte through sensor might produce error during signal transformation or phase measurement. To avoid the phenomenon above all, the proposed system works in double-string way for signal processing. The system uses two sensors in total. One sensor is for the experimental group and the other is for the control group. The analyte would be placed on the sensor in the experimental group.

備註

本部(收文號1100053854)同意該校110年8月25日中產營字第1101401007號函申請終止維護專利(中山)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

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