以電光量測系統量測磁場及以磁光量測系統量測電場之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

091117506

專利證號

I 197952

專利獲證名稱

以電光量測系統量測磁場及以磁光量測系統量測電場之方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2004/03/01

技術說明

以電光量測系統量測磁場及以磁光量測系統量測電場之方法

備註

發明人:謝坤尉 科技部計畫：儀器科技發展計畫 本部(收文號1050070266)同意該院105年8月23日國研業字第1050102309號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

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