紫外-可見光光偵測器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095131973

專利證號

I287628

專利獲證名稱

紫外-可見光光偵測器

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2007/10/01

技術說明

一種紫外-可見光光偵測器，其特徵在於具有一感測層，且該感測層係由一奈米孔洞二氧化矽(mesoporous silica, MS) 與一形成於該奈米孔洞二氣化矽中之孔道中的奈米微晶(nanocrystal,NC)矽(或鍺)之量子點陣列所構成。本發明紫外-可 見光光偵測器具有極佳的效能穩定性。

備註

本部(收文號1070025932)同意該院107年4月17日國研授米企院字第1070500524號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

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