量測裝置及其量測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100138395

專利證號

I 452270

專利獲證名稱

量測裝置及其量測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2014/09/11

技術說明

本發明直接用影像式輝度計拍攝屏幕上光場分布，鑒於單一屏幕無法涵蓋整個球域的光場，必須量測幾組不同角度下的光場分布，再將不同的光場分布組合成整個球域的光場分布，因為此架構具有量測速度快的優勢，故適合應用在生產線上的品管。在此基本概念下提出三種實施方式：第一種實施方式提出一種架構，其便於同時旋轉屏幕與影像式輝度計至各種角度以進行量測；第二種方式使用多組影像式輝度計與屏幕進行拍攝，最適合應用在生產線上；而最後一種架構是把影像式輝度計改成其他用兩面鏡子快速掃描屏幕上每一點到光譜儀，此子架構不但可以量到光場分布，還可以得到光場分布上每一點的頻譜，因此將有更多的應用，例如空間色偏的量測、雙向散射函數量測。 This invention take the intensity distribution of the target by luminus imaging measurement system. Since one plate screen can't retrieve whole field intensity distribution, it is necessary to measure the intensity distribution in different angles. Besides, a method is necessary to reconstruct the whole field intensity distribution. This structure owns the advantage of quick measurement. Thus it suits for quality control in production line.

備註

本部(收文號1090071728)同意該校109年11月30日中大研產字第1091401301號函申請終止維護專利(中央)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

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