順序量測雙折射材料多項光學參數之裝置與方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094100413

專利證號

I 274142

專利獲證名稱

順序量測雙折射材料多項光學參數之裝置與方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2007/02/21

技術說明

本發明係為一種順序量測雙折射材料多項光學參數與二維全場量測之裝置及方法，其裝置由 包括一入射光源及一光學架構，其量測方法則係使上述入射光源依序經過光學架構之偏振 片、電光調變器、以及第一λ/4波片、待測物、第二λ/4波片、檢偏片，並於光偵測器上接受 其光訊號，另配合移除第一λ/4波片，最後再將前述光訊號分別經過帶通濾波器和鎖相放大器 作訊號處理，經運算單元之運算以分別獲得主軸角度、相位延遲、階數、厚度和尋常光與非 尋常光的折射率等光學參數；另藉由加入CCD及電控裝置，本發明亦為一種二維全場量測裝置 及方法。

備註

本部(收文號1030032705)同意該校103年5月7日1034500281號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

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