配列式近接場光高散乱材料の検出方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

日本

專利申請案號

特願 2015-123795

專利證號

特許 6140772

專利獲證名稱

配列式近接場光高散乱材料の検出方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2017/05/12

技術說明

一種陣列式近場光學高散射材料檢測方法，其包含下列步驟：照射一輸入光至該高散射材料上，以讓該照射光在該高散射材料中產生一漫反射、擴散與傳遞; 讀取該高散射材料上之不同位置之光學能量;根據該等光學能量，形成一二維光強度分佈數據影像; 並根據該二維光強度分佈數據影像，分析該高散射材料之一組成結構變化，並因此得到該高散射材料之一組成結構。本方法被運用於生醫工程、化學工程、環境工程、與水產養殖應用等綠色科技之檢測技術上。　

備註

本會(收文號1120053075)同意該院112年8月8日國研授儀服院字第1120901323號函申請終止維護專利(財團法人國家實驗研究院)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址