製作場感測奈米球尖探針之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094140390

專利證號

I287089

專利獲證名稱

製作場感測奈米球尖探針之方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2007/09/21

技術說明

一種製作場感測奈米球尖探針之方法．其主要係利用電化學還原法於掃描探針尖端，使其形成一奈米金屬球狀結構， 由於奈米金屬球結構的探針尖端不易受到雜散場效應(stray field effect)的影響，因此可明顯提高場感測掃描探針 顯微鏡的間解析度．

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址