奈米積體電路估測分佈式RLC耦合互連線路串擾雜訊的設計方法與驗証METHOD OF VERIFICATION OF ESTIMATING CROSSTALK NOISE IN COUPLED RLC INTERCONNECTS WITH DISTRIBUTED LINE IN NANOMETER INTEGRATED CIRCUITS

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

10/889,497

專利證號

US 7,017,130 B2

專利獲證名稱

奈米積體電路估測分佈式RLC耦合互連線路串擾雜訊的設計方法與驗証METHOD OF VERIFICATION OF ESTIMATING CROSSTALK NOISE IN COUPLED RLC INTERCONNECTS WITH DISTRIBUTED LINE IN NANOMETER INTEGRATED CIRCUITS

專利所屬機關 (申請機關)

長庚大學

獲證日期

2006/03/21

技術說明

本發明將提供一種奈米積體電路中,快速估測串擾雜訊的工具,除了考慮傳統耦合 電容外,能 進一步考慮電感互感效應。本發明以分佈式RLC耦合樹狀電路模型，模擬深次微米 與奈米積 體電路中的互連線路。利用線性運算時間複雜度的遞迴動差運算工具與座標投影 式的模型簡 化技術，本發明可以有效估測具有電感性之串擾雜訊峰值，且其運算效率及精確 性均較集總 式電路模型為佳。此遞迴動差運算工具將可同時處理具有耦合電容與互感的電路 動差計算。 所產生保證穩定性之簡化模型將用於估測串擾雜訊峰值。 A method for efficiently estimating crosstalk noise of nanometer VLSI interconnects is provided. In the invention, nanometer VLSI interconnects are modeled as distributed RLC coupled trees. The efficiency and the accuracy of moment computation of distributed lines can be shown that outperform those of lumped ones. The inductive crosstalk noise waveform can be accurately estimated in an efficient manner using the linear time moment computation technique in conjunction with the projection-based order reduction method. Recursive formulas of moment computations for coupled RC trees are derived with considering both self inductances and mutual inductances. Also, analytical formulas of voltage moments at each node will be derived explicitly. These formulas can be efficienty implemented for crosstalk estimations.

備註

本部(收文號1060045588)同意該校106年7月4日長庚大字第1060070019號函申請終止維護專利

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