週期位移測量裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

110122129

專利證號

I 780777

專利獲證名稱

週期位移測量裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中興大學

獲證日期

2022/10/11

技術說明

一種週期位移測量裝置，應用於測量一待測物之週期性位移，該待測物根據一驅動信號而以一第一頻率進行週期性運動，該週期位移測量裝置包含一光源模組及一攝影機模組。該光源模組根據一脈衝信號而依一第二頻率以脈衝形式朝該待測物照射，其中，該第二頻率不同於該第一頻率，且該第二頻率相關於該第一頻率與一第一預設常數之和。該攝影機模組拍攝該待測物，並輸出複數相關於該待測物之週期性位移的影像。藉此，能適用於各種形式的刀具，量測準確度較高，且由於不需要使用高速攝影機，亦具有設備成本較低之功效。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

04-22851811

網址