光學折射率之高精密量測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

092114499

專利證號

I224671

專利獲證名稱

光學折射率之高精密量測方法

專利所屬機關 (申請機關)

遠東科技大學

獲證日期

2004/12/01

技術說明

本發明係關於於一光學折射率之高精密量測方法，主要係將待測試片立置放於一極化分光鏡 和隅角反射鐘之間，其中待測試片並置放為一可徑向旋轉型態，另隅角反射鏡則固定不動， 量測時，使待測試片旋轉一預設角度，造成通過待測試片之光路改變，藉由待測試片旋動前 後之光路上的差異，利用數學解析方式推算出待測試片的光程差，進而得到待測試片折射率 之值。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

創造力中心

連絡電話

06-5979566-7912

網址