檢測靶板、光學檢測裝置及光學檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

104141824

專利證號

I 582400

專利獲證名稱

檢測靶板、光學檢測裝置及光學檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2017/05/11

技術說明

本發明提出一種檢測靶板，該檢測靶板用於檢測一影像感測器所感測之一線性方向之一影像，包含：一基板；以及一檢測圖案，設置於該基板上，且具一彎折條紋，其中該彎折條紋相對於該線性方向的一垂直方向呈對稱狀態，且具二對稱子條紋，俾當該檢測靶板與該線性方向對齊時，該二對稱子條紋與該線性方向所具有之二夾角相等。

備註

本會(收文號1120053075)同意該院112年8月8日國研授儀服院字第1120901323號函申請終止維護專利(財團法人國家實驗研究院)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址