磁力裝置及其校正方法Magnetic Device and Method for Calibration of Magnetic Device

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

104115037

專利證號

I 546552

專利獲證名稱

磁力裝置及其校正方法Magnetic Device and Method for Calibration of Magnetic Device

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2016/08/21

技術說明

軟鐵與硬鐵是指磁力計受到非地磁以外的環境干擾，現有文獻針對磁力計軟鐵與硬鐵影響之消除方式侷限在非即時地演算法，需要磁力計在原地大量的空間資料來計算出軟鐵與硬鐵影響的參數，此方法雖然可以準確地校正磁力計，但針對環境隨時間變化，或是會移動的平台尚無例可循，也沒有一個標準的解決方法。 本案設計一個裝置包含上下兩平台，下平台利用一直流馬達連接上平台，保持等速度旋轉，此馬達同時帶有編碼器可以提供旋轉資訊，上平台放置一個微電子機械系統(MEMS)之磁力計，藉由新推導出之演算法將環境中軟硬鐵之影響消除得到精確之上平台指向資訊，加上下平台馬達編碼器之資訊，我們就可以得到整個裝置相對於地磁之指向資訊。 We propose to build a self-rotation device which contains a DC motor with encoder to rotate a plane with a MEMS magnetometer on it. Then the MEMS magnetometer can continuously record the magnetic information with knowing the rotation speed in a closed circle path. By those information we can real-time compensate the soft and hard iron effects influenced by environment. And the yaw angle estimated by the magnetometer subtracts the rotation angle of the DC motor would be the heading information of this device respect to the Earth’s north direction.

備註

本會(收文號1110027136)回應該校111年5月12日陽明交大研產學字第1110015716號函申請終止維護專利(國立陽明交通大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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