一種影像亮度不均瑕庛的檢測方法Non-uniform image defect inspection method

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/933,511

專利證號

US 8,145,008 B2

專利獲證名稱

一種影像亮度不均瑕庛的檢測方法Non-uniform image defect inspection method

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2012/03/27

技術說明

薄膜電晶體液晶顯示器之Mura瑕疵常具有低對比和非均一性的特質，大部分製造商仍然以人工目檢的方式來檢測TFT-LCD的品質，人工目檢的檢測方式成本高，而且無法達到固定的品質標準；因此本創作基於背景重建之概念，提出TFT-LCD瑕疵檢測演算法，以達到自動化瑕疵(Mura)檢測的目的。由於LCD面板上存在著非均一性的亮度變化，且瑕疵與背景間的亮度差異很小，因此造成Mura瑕疵檢測上的困難。本發明提出利用離散餘弦轉換(Discrete Cosine Transform, DCT)，從DCT係數之反轉換，能有效地淬取出背景資訊，重新建構出不具瑕疵之原始背景影像，解決TFT-LCD影像非均一性之檢測問題。 The invention relates to a non-uniform image defect inspection method, especially to a non-uniform image defect inspection method that can segment non-uniform image defects from the inspected image by way of reconstructing an original background image without defects by Discrete Cosine Transform (DCT) and selecting an appropriate threshold.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址