相位雜訊量測電路

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

105118616

專利證號

I 571641

專利獲證名稱

相位雜訊量測電路

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2017/02/21

技術說明

相位雜訊是鎖相迴路系統的關鍵性能指標，一般僅能透過頻譜分析儀或示波器量測取得結果，其量測成本昂貴且費時，本專利提出一種相位雜訊量測技術，可整合至單晶片系統中，進行多種鎖相迴路系統之量測，不需昂貴的儀器設備，同時可降低晶片測試成本，不同於時脈抖動量測法，本發明可將相位雜訊轉為數位訊號，經訊號處理後，可分析雜訊頻譜成份及雜訊功率大小，來達到優異的量測結果，其數位訊號亦可以提供給予電路測試及電路校正使用。 在電路層面，本專利提出一個高解析度多相位時脈產生器，可結合數位控制電路，得到不同之時間延遲輸出，以達到高解析度及多相位輸出；在系統層級，設計者可根據所需規格，以和差調變機制，加以改變相位雜訊量測電路架構，來優化系統效能，並達到優異的量測結果。 Phase noise is one of the key performance of PLL. In general, phase noise is measured by spectrum analyzer or oscilloscope. It's costly and takes time. This invention proposes a phase noise measurement technique for in chip PLL without resort to expensive instruments. Different from measuring using oscilloscope, the measured data can be digitally processed in frequency domain and estimate noise power. It can also be applied for automatic circuit calibration. At circuit level, this invention proposes a high precision multi-phase clock generator. Incorporating with digital control circuits, it can provide different time delay with high resolution. At system level, the architecture is extendable to high order delta sigma modulator, so as to enhance system performance and noise floor for phase noise measurement.

備註

本會(收文號1120019924)同意該校112年4月7日陽明交大研產學字第1120010771號函申請終止維護專利(國立陽明交通大學)

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