發明
中華民國
095127112
I306949
光電元件載子飄移速度之測量方法及其裝置
國立中山大學
2009/03/01
以往量測元件的漂移速度時,通常只能獲得整體元件整體的載子漂移速度,若使用本實驗室所 發展的技術,對於漂移速度量測,可以做到細部的分析,換言之我們可以獲得元件上任一點載 子漂移速度分析。
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