共光程外差式微小偏極旋轉測量計及方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107140401

專利證號

I 688754

專利獲證名稱

共光程外差式微小偏極旋轉測量計及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2020/03/21

技術說明

以共光程外差干涉術結合二分之一波片量測其相位差變化以獲知待測物之偏極旋轉量 Measuring the phase difference due to polarization rotation of the test medium in the common-path heterodyne interferometry system with a half wave plate.

備註

本會(收文號1110074705)同意該校111年12月6日虎科大智財字第1113400128號函申請終止維護專利(國立虎尾科技大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

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