一種三維精密齒型快速輪廓掃描裝置與技術

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

10/771,363

專利證號

7,259,871 B2

專利獲證名稱

一種三維精密齒型快速輪廓掃描裝置與技術

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2007/08/21

技術說明

藉由將兩組對稱之雷射光學投影單元與影像擷取單元之光學原件予光學透鏡組 整 合於一量測裝置內，並依藉光學投射單元與待測齒型之幾何關係，設計適當之 結 構光投射視角，獲得理想之結構光投射精度與量測完整性，同時再以多組影像 感 測元件擷取結構光紋影像，利用三角量測法，快速計算待測齒型之三維精密輪 廓 尺寸。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址