Integrated circuit automatic test system and integrated circuit automatictest method storing test data in scan chains

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

15/479,632

專利證號

US 10,324,129 B2

專利獲證名稱

Integrated circuit automatic test system and integrated circuit automatictest method storing test data in scan chains

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2019/06/18

技術說明

本發明係有關於一含儲存測試資料的掃描鍊的自動測試架構及其方法，其自動測試架構中包括一條或多條儲存壓縮後測試資料的掃描鍊、一測試控制器，以及一測試解壓縮器，儲存於掃描鍊的測試資料在測試過程中係由測試控制器與測試解壓縮器讀取、重組並解壓縮成測試所需的測試向量，測試控制器更進一步配合測試流程自動產生測試控制訊號以達到測試目的；本發明不再仰賴外部測試機台輸入測試資料與測試控制訊號且可完成積體電路之電性測試，藉此，有效達到降低積體電路電性測試成本之目的。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址