調節器檢測裝置及其用以檢測調節器之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100119259

專利證號

I 490451

專利獲證名稱

調節器檢測裝置及其用以檢測調節器之方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2015/07/01

技術說明

本發明係為一種以真空壓印測量鑽石調節器之平坦度之方法，係包含：提供壓印裝置，該壓印裝置設有一承載台，該承載台設置一凹槽，且該凹槽具有一第一表面，且該凹槽之外周緣設有一環牆及一抽氣孔，且該凹槽依序鋪設有一空白紙及一覆寫紙，該鑽石調節器之鑽石面朝向該凹槽並放置於該凹槽上，以一封膜覆蓋該承載台而形成一抽氣空間，一密封環將該封膜與該環牆緊密地結合，藉由該抽氣孔將該抽氣空間之空氣抽出，使該鑽石調節器對該第一表面施予一壓力，使該鑽石調節器藉由該覆寫紙對該空白紙留下壓印痕跡，藉由該壓印痕跡計算該鑽石調節器之顆粒數，並得到一平坦度數值。 Detection device and its regulator regulator of the method used to detect

備註

本部(收文號1110014699)同意該校111年3月15日虎科大智財字第1113400022號函申請終止維護專利(國立虎尾科技大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

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