幾何誤差檢測裝置Geometric Error Measuring Device

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/612,400

專利證號

US 8,325,333 B2

專利獲證名稱

幾何誤差檢測裝置Geometric Error Measuring Device

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2012/12/04

技術說明

一種幾何誤差檢測裝置，主要由一檢測模組以及至少一光電感測器所構成；該檢測模組係由發射裝置產生至少一光束輸出，該光電感測器用以接收光束；其中，該光束輸出方向與檢測方向相互平行，若檢測後無誤差產生，則檢測光點位置與起始光點位置相同；反之，若檢測後有誤差產生，則檢測光點位置會隨著誤差的變化改變；藉由光電感測器所測得之數據，經由訊號處理與計算，即可獲得機具之直度、垂直度與角度誤差，亦可作為機具裝機架設時的直度、垂直度、角度與平行度之調校。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

網址