低同調光源成像術OPTICAL IMAGING APPARATUS AND METHOD

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/497,986

專利證號

US 8,493,568 B2

專利獲證名稱

低同調光源成像術OPTICAL IMAGING APPARATUS AND METHOD

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2013/07/23

技術說明

光學同調斷層掃描為一種不具侵入性的光學顯影技術，已廣泛應用於諸多生醫應用領域中，主要可根據縱向掃描方式分成時域光學同調斷層掃描與頻域光學同調斷層掃描兩類。本發明是有關於一種光學影像產生裝置及其方法，特別是指一種低同調光學斷層影像產生方法及其裝置。在麥克森干涉儀的基礎架構上，使用一多輸出端之低同調光束產生裝置，並藉由調變該光束產生裝置縱向位置造成參考端與樣本端之光程差，以取得樣本之一維縱向深度資訊，因而簡化了整體光路設計架構並縮減設備體積。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址