光學圖像的缺陷補償方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

105129996

專利證號

I 590191

專利獲證名稱

光學圖像的缺陷補償方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2017/07/01

技術說明

揭示一種光學雷射反射圖像缺陷補償法，包含：取出有缺陷的光學雷射反射半圓形圖像；對該光學雷射反射半圓形圖像進行Otsu二值化；利用morphology closing法去除該光學雷射反射半圓形圖像之雜訊；利用Canny edge detector法對該光學雷射反射半圓形圖像進行邊緣偵測；以霍夫轉換(Hough transform)求得與原始光學雷射反射圖像所接近的多種圓形圖像，利用雜訊去除後的光學雷射反射半圓形圖像的像素點數量作為估計的半圓形面積，對霍夫轉換進行條件限制，取出真正所需半圓形圖像對原始光學雷射反射圖像缺陷進行補償。 A compensation method for compensating defects of optical laser reflective patterns, the compensation method comprising: capturing optical laser reflective patterns having defects; performing a Otsu Binarization step to the optical laser reflective patterns; removing noises of the optical laser reflective patterns using a morphology closing step; performing an edge detecting step to the optical laser reflective patterns using a Canny edge detector; obtaining a plurality of circle patterns closed to the original optical laser reflective patterns using a Hough transform step; using a quantity of pixels of the optical laser reflective patterns in which the noises thereof being removed as a estimated circle area; applying the estimated circle area as a constrained condition of the Hough transform step, thereby determining real circle patterns to compensate defects of the original optical laser reflective patterns.

備註

本會(收文號1120005017)同意該校112年1月18日中正研發字第1120900031號函申請終止維護專利(國立中正大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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