發明
中華民國
105113174
I 603338
用於修復電阻式記憶體的電控裝置、方法、內儲程式之電腦程式產品及電腦可讀取紀錄媒體
國立中山大學
2017/10/21
本發明主要揭示一種用於修復電阻式記憶體的電控裝置及方法,用於解決習知元件可靠度不佳問題,該方法可供用於修復該電阻式記憶體之電控裝置執行,該電控裝置用於電性連接該電阻式記憶體非用於接地的一電極,使該電極接收該電控裝置產生的一操作訊號及一回復訊號,該操作訊號於一操作時間內由一零電位轉為一非零電位,再由該非零電位轉為該零電位,該方法包含:若該操作訊號由該非零電位轉至該零電位,該電控裝置產生該回復訊號,該回復訊號由該零電位降至一負電位,維持一回復時間,再由該負電位升至該零電位。藉此,可確實解決上述問題 This invention mainly discloses a control apparatus and a method which is used for solving a problem of bad reliability of the known component such as resistance random access memory. The operating signal is changed from a zero potential into a non-zero potential and then from non-zero potential changed into zero potential during an operating period. The method comprises step that if the operating signal is changed from the non-zero potential to the zero potential, then the recovery signal generated by the control apparatus, with the recovery signal form the zero potential dropped to a negative potential to maintain a recovery period and then from the negative potential raised to the zero potential. Thus, it can actually resolve the said problem.
本會(收文號1120039878)同意該校112年6月28日中產營字第1121400592號函申請終止維護專利(國立中山大學)
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