Sample chip for electron microscope and its related application

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

16/202,061

專利證號

US 10,978,269 B2

專利獲證名稱

Sample chip for electron microscope and its related application

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2021/04/13

技術說明

提供一種用於電子顯微鏡並具備新穎構型的液態樣品承載晶片，此晶片設計提供液態樣品於穿透式及表面掃描式電子顯微鏡觀測的解析度，並可以提供樣品加熱、液體通道及施加電偏壓等功能，由於其新穎之製程方法，此晶片具有可量產性。

備註

本會(收文號1110060997)同意該校111年9月29日成大產創字第1111103126號函申請專利讓與(國立成功大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址