Apparatus and method for scanning artificial structure

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

16/593,018

專利證號

US 11,175,354

專利獲證名稱

Apparatus and method for scanning artificial structure

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2021/11/16

技術說明

本案之磁力探測技術所針對之金屬探查目標體而論，常見工程建物的RC 結構是以多層箍筋支撐樑柱，建築物的主筋則圍繞樑柱四周。因此透過磁力探測車能對各樓層板及樑柱內的主要鋼筋結構進行掃描，藉此了解鋼筋結構目標物之所在與其數量、狀況等資訊。又對於未知的管線分布、走向或其可能的結構破壞、漏洞，磁力探查都可提供掃描影像供現地結構或土木工程師判斷之。本案開發之磁力行動掃描系統特別具有快速掃描成像之能力

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

網址