一種LED白光品質檢測方法與裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101110976

專利證號

I 439676

專利獲證名稱

一種LED白光品質檢測方法與裝置

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2014/06/01

技術說明

本發明係揭露一種LED白光品質檢測方法，其包含下列步驟：藉由一定額電壓供應單元提供一穩定電流至一LED，使LED產生一穩定光斑；利用一光強度感測單元之一光感元件接收穩定光斑的光強度分布，並將穩定光斑的強度特徵轉換成一數位資訊；藉由一前處理單元接收數位資訊，以傳換成一像素資訊；以及利用一計算單元接收像素資訊，並 根據像素資訊計算出各個像素點之一像素黃圈指標。並使用此黃圈指標的數值範圍來判定待測LED的品質特性 A white LED quality inspection method includes steps as follows. A steady current is supplied to a LED by a rated voltage supply unit for generation of a stable light spot from the LED; a stable light spot is received by a photosensor of a luminous intensity sensing unit and transformed to digital information; the digital information is received by a preprocessing unit and transformed to pixel information; the pixel information is received by a calculation unit to calculate a Yellow Ring Index of each pixel in the pixel information.

備註

本部(收文號1090048620)同意該校109年7月30日國研授儀服院字第1090901164號函申請終止維護專利(財團法人國家實驗研究院)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

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