應用於射頻量測之高頻校正裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100127012

專利證號

I 431296

專利獲證名稱

應用於射頻量測之高頻校正裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2014/03/21

技術說明

本發明主要係針對於一種應用於射頻量測之高頻校正裝置的發展，此裝置包含套件如下：一量測機台，具有一載台、一第一量測臂及一第二量測臂，該載台供承載一待測裝置，該第一量測臂具有一第一探針，該第二量測臂具有一第二探針，該第一量測臂與第二量測臂相對設置於該載台之兩端，各該第一探針與第二探針分別沿一直線軌跡移動以接近或遠離該載台；一高頻量測裝置，具有二高頻傳輸纜線，該二高頻傳輸纜線分別連接該第一探針及第二探針。 This invention is focus on a high frequency calibration device development for RF measurement comprises a measurement machine having a carrier, a first arm and a second arm. The carrier can support a device under test. The first arm has a first probe and the second arm has a second probe. The first and second arms are disposed correspoondingly to the two ends of the carrier. The first and second probes move colse to or away from the carrier in a direction. A high frequency measurement system has two cables are connected to the first and second probes respectively.

備註

本部(收文號1060011881)同意該校106年2月17日中產營字第1061400161號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址