一種利用原子力顯微鏡為基台進行拉伸試驗的裝置與方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095115959

專利證號

I302984

專利獲證名稱

一種利用原子力顯微鏡為基台進行拉伸試驗的裝置與方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2008/11/11

技術說明

一種利用原子力顯微鏡(AFM)為基台的拉伸試驗裝置與方法

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

網址