差動式光學測距儀

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108142443

專利證號

I 715304

專利獲證名稱

差動式光學測距儀

專利所屬機關 (申請機關)

國立雲林科技大學

獲證日期

2021/01/01

技術說明

本創作的光學測距儀適用於對精密機械等元件的位移檢測，透過架設4個光感測器(PD)，在量測時，能同時量測到四組具有直流項與交流項的訊號，透過彼此運算後可直接消除直流項，換句話說，此架構的光學測距儀，透過架設2組(即4個)光感測器，能直接在光路消除直流項，而不用透過後續額外設置電路做消除，以提高檢測效率。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財管理組

連絡電話

(05)5342601轉2521

網址