發明
中華民國
094130616
I 264523
透鏡偏心與傾斜之干涉儀量測方法與裝置
財團法人國家實驗研究院
2006/10/21
透鏡偏心與傾斜之干涉儀量測法之裝置
1.發明人:吳文弘,黃國政,李建興,余宗儒 2.科技部計畫:儀器科技發展計畫(2006年的公務預算) 本部(收文號1050070266)同意該院105年8月23日國研業字第1050102309號函申請終止維護專利
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