ABSOLUTE POSITION DETECTING DEVICE AND METHOD

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

15/223,527

專利證號

US 10,145,709

專利獲證名稱

ABSOLUTE POSITION DETECTING DEVICE AND METHOD

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2018/12/04

技術說明

提供一種絕對位置偵測裝置及方法。絕對位置偵測裝置藉由對磁性尺進行兩列不同極寬的增量式充磁，因磁阻感測器的特性，感測器對應於特定的極寬，產生兩相正交的弦波信號，藉此繪得正圓的李莎育曲線。兩列增量列的極寬是由一組標準極寬與略大或略小的極寬所組成，因極寬略大或略小於特定極寬，使得磁阻感測器輸出信號有相位誤差，因此得到橢圓狀的李莎育曲線。一般而言，橢圓狀的李莎育曲線並不能有效進行位置解析，本方法透過判斷磁阻感測器讀取之訊號位於該等橢圓上所在的區間，反而可以獲得絕對位置。 Disclosed are an absolute position detecting device and method. The absolute position detecting device utilizes the incremental magnetization on a magnetic ruler with two different pole widths, such that elliptical Lissajous curves may be obtained by magnetoresistive sensors. The absolute position may be obtained by determining the region of the signals on the ellipses read by the magnetoresistive sensors.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219

網址