一種奈米級雙軸輪廓量測裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

092129693

專利證號

224188

專利獲證名稱

一種奈米級雙軸輪廓量測裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2004/11/21

技術說明

一種奈米級雙軸輪廓量測裝置

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

網址