低密度同位元檢查碼解碼裝置及方法 | 專利查詢

低密度同位元檢查碼解碼裝置及方法


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102100560

專利證號

I 504163

專利獲證名稱

低密度同位元檢查碼解碼裝置及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中興大學

獲證日期

2015/10/11

技術說明

一種低密度同位元檢查碼解碼裝置,適用於處理N個分別對應N個解碼位元的可靠指標,包含:一可靠度更新器,為各可靠指標,根據C個檢查條件中的WC個來分別更新Wc個優化因子,且使每個可靠指標加上其對應的Wc個優化因子而得到更新後的可靠指標,1

備註

本部(收文號1090023163)同意該校109年4月20日興產字第1094300209號函申請終止維護專利(中興)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

04-22851811


版權所有 © 國家科學及技術委員會 National Science and Technology Council All Rights Reserved.
建議使用IE 11或以上版本瀏覽器,最佳瀏覽解析度為1024x768以上|政府網站資料開放宣告
主辦單位:國家科學及技術委員會 執行單位:台灣經濟研究院 網站維護:台灣經濟研究院