發明
中華民國
102100560
I 504163
低密度同位元檢查碼解碼裝置及方法
國立中興大學
2015/10/11
一種低密度同位元檢查碼解碼裝置,適用於處理N個分別對應N個解碼位元的可靠指標,包含:一可靠度更新器,為各可靠指標,根據C個檢查條件中的WC個來分別更新Wc個優化因子,且使每個可靠指標加上其對應的Wc個優化因子而得到更新後的可靠指標,1
本部(收文號1090023163)同意該校109年4月20日興產字第1094300209號函申請終止維護專利(中興)
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