液晶盒厚度量測裝置及其量測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102100126

專利證號

I 464364

專利獲證名稱

液晶盒厚度量測裝置及其量測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2014/12/11

技術說明

一種液晶盒厚度量測裝置。本發明係透過雷射光源用以產生激發光源及探測光源，步進馬達將探測光源延遲一特定時間，光導天線模組用以接收激發光源並產生兆赫波。第一面鏡組用以將兆赫波聚焦於液晶盒放置之位置。第二面鏡組用以使穿過液晶盒的兆赫波聚焦於電光晶體之位置，使電光晶體之折射率將被入射之兆赫波改變。探測光源由步進馬達給予一延遲時間後入射至改變折射率之電光晶體，而導致光程改變。檢測模組檢測探測光源之光程以取得樣品電場時域波形，將樣品電場時域波形與參考電場時域波形轉為頻譜圖，藉由頻譜圖計算出液晶盒之厚度。

備註

本部(收文號1061000804)同意該校106年10月20日中產營字第1061401097號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

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