應用模組瓶頸法預測週期時間之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

096105995

專利證號

I 327293

專利獲證名稱

應用模組瓶頸法預測週期時間之方法

專利所屬機關 (申請機關)

修平學校財團法人修平科技大學

獲證日期

2010/07/11

技術說明

對於生產週期時間的預測問題，有許多演算法提出這方面的研究發展。在這些眾多演 算法預測模式中，統計迴歸預測模式相對而言是一種較簡單且常用的預測方法。然而對於 生產製程複雜的晶圓廠而言，每項訂單都需經過幾百道的加工製程。為了獲得精確的週期 時間預測值，對於每道製造流程必須以歷史資料來建構自己的迴歸模型然後加以整合。然 而這種做法將導致模式過於複雜。使得以迴歸模型建構週期時間的預測方法變得不可行。 針對此問題本研究嘗試發展出區間的觀念，所謂區間是指在製造過程中以批次作業為分 割，兩個批次作業間的序列作業為一個區間，並結合限制理論系統瓶頸的觀念發展出一套 區間瓶頸預測模式來克服上述問題。 Numerous algorithms have been designed for cycle time estimation, among which the regression model is a relatively simple one. However, the hundreds of operations involved in a wafer fab, the approach make it infeasible to apply in wafer fab cycle time estimation. This study applies the concepts of block and bottleneck to design a block-bottleneck regression estimation model to overcome the problem. Comparison with various estimation models demonstrates that the block-bottleneck method achieves superior results to comparison methods.

備註

本部(收文號1040020631)同意該校104年3月25日修平研字第1040002286號函申請終止維護專利(修平)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究計畫組

連絡電話

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