應用於快閃型類比數位轉換器之比較器漂移電壓的幕後校正方法Background comparator offset calibration technique for flash analog-to-digital converters

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/135,218

專利證號

US 7,064,693 B1

專利獲證名稱

應用於快閃型類比數位轉換器之比較器漂移電壓的幕後校正方法Background comparator offset calibration technique for flash analog-to-digital converters

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2006/06/20

技術說明

本申請案包含兩個主體「幕後校正式比較器」與「幕後校正式快閃型類比數位轉換器」。前者由「隨機切換式比較 器」與「校正處理器」兩部分組成，後者之比較器陣列由「窗格化幕後校正式比較器」組成，其餘部分與標準快閃型 類比數位轉換器類似。 「幕後校正式比較器」內部之「校正處理器」根據「隨機切換比較器」輸出之數位訊號統計特性，利用累加器與簡單 數位邏輯，獲取比較器輸入漂移電壓之極性資訊。比較器內部具有可微調漂移電壓之機制，受控於校正處理器，可藉 以校正輸入漂移電壓。此校正程序與比較器同時運作，不影響比較器之正常功能，可將比較器漂移電壓逐步調整至接 近零。當校正處理器之調整收斂後，由於其動態性質，漂移電壓並不會維持固定值，而是在零附近顫動。此顫動可視 為雜訊，其大小可藉由精確估計相關參數，將其抑制在不影響比較器效能的水平之下

備註

本部(收文號1060016225)同意該校106年3月7日交大研產學字第1061002219號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

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