具掃描鍊架構與邏輯單元矩陣之測試晶片架構及其診斷方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109109020

專利證號

I 734420

專利獲證名稱

具掃描鍊架構與邏輯單元矩陣之測試晶片架構及其診斷方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2021/07/21

技術說明

我們提出了一個具掃描鍊架構與邏輯單元矩陣之測試晶片架構，其能針對包含輸入向量錯誤、定值錯誤及橋接錯誤之複數錯誤進行診斷。該架構包含一個二維邏輯單元矩陣與兩組用來孤立邏輯單元塊之掃描鍊組。利用掃描鍊，我們能完整的控制與觀測各個邏輯單元塊並提升測試晶片之可測性與診斷能力。我們也提出了一個包含兩組測試的高效診斷流程以診斷缺陷。分析結果顯示我們的診斷流程對於單一錯誤皆能達到100%的準確度。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址