發明
中華民國
091134556
I 229343
嵌入式記憶體擷取時間量測方法與裝置
國立清華大學
2005/03/11
本發明「嵌入式記憶體擷取時間量測方法及裝置」主要目的係為降低量測成本,增加量測精 確度、設計能整合於測試流程中,並轉換為數位信號時間數據輸出之記憶體擷取時間量測方 法及裝置。本發明之方法主要技術內容為在於配合記憶體測試之重複步驟,再將記憶體細胞 元寫入和背景相反資料、在讀取時之擷取轉為電壓、電流、電荷、或其他參數,利用下一地 址之上述前二步驟時間,同時以峰值偵測器比較並記錄迄今記憶體擷取時間之最大值。本發 明之裝置特徵再於量測時間開始時,使用控制信號以”窗式”比較峰值偵測器中現在擷取時 間和以前所存時間最大值,以避開比較器延遲時間、安頓時間,使峰值偵測器中所儲存之最 大記憶體擷取時間值為正確值。
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