用於電子顯微鏡的測試樣品及其製作方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109136227

專利證號

I 752679

專利獲證名稱

用於電子顯微鏡的測試樣品及其製作方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2022/01/11

技術說明

一種減輕電子顯微鏡於影像收集時產生積碳的方法

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219

網址